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彭海琳課題組與合作者在集成型多通道二維鳍式晶體管研究中取得進展

  鳍式場效應晶體管(FinFET)技術将矽基溝道和栅極制備成類似于魚鳍(Fin)的垂直薄片結構,于2011年實現了集成電路商業化量産,突破了芯片22納米制程工藝。自此,垂直鳍片溝道架構主導了現代晶體管微縮制程工藝,也是當前最先進的商用3納米芯片制程的主流架構。當前3納米制程的矽基鳍式晶體管(FinFET)的最小鳍片厚度約5納米,已經趨近物理極限,矽基材料在芯片尺寸微縮極限下将面臨短溝道效應等關鍵挑戰,亟需芯片關鍵材料及其三維異質集成技術的創新。

 

  開發高遷移率二維半導體鳍片/高介電常數(κ)栅介質集成型鳍式晶體管,有望突破傳統矽基晶體管物理極限,尤其是在實現亞1納米鳍片溝道厚度與原子級平整界面方面具有獨特的優勢,從而展現出優異的器件性能與高密度集成潛力。然而,為了實現優異的二維鳍片器件性能與高集成度,通常需要高κ栅介質集成型多鳍片陣列的可控制備,這在二維鳍式晶體管中仍屬挑戰。

 

  針對這一難題,beat365官方网站彭海琳課題組與深圳先進技術研究院丁峰課題組合作,發展了一種基底台階誘導二維半導體鳍片定點、定向、垂直外延生長的方法,實現了單一取向二維鳍片陣列的表界面控制制備,并研制了高性能高κ栅介質集成型多通道二維鳍式晶體管,證明了二維鳍式晶體管的集成潛力。研究成果以“Integrated 2D multi-finfield-effect transistors”為題,于2024年4月29日,發表在《自然-通訊》(Nature Communications)期刊上(Nature Commun. 2024,15,3622)。

 

  

  

  近年來,beat365官方网站彭海琳課題組主要從事二維材料物理化學與納米器件研究,緻力于高遷移率二維材料(石墨烯、拓撲絕緣體、氧硫族半導體)的控制合成、界面調控和器件應用研究。在國際上率先開發了高遷移率二維半導體(Bi2O2Se)及其高κ自然氧化物栅介質Bi2SeO5材料體系(Nature Nanotech. 2017, 12, 530; Nature Electron. 2020, 3, 473; Nature Electron. 2022, 5, 643; Nature Mater. 2023, 22, 832),構築了高速低功耗電子器件、量子輸運器件、超快高敏紅外光探測及高敏氣體傳感器(Nature Commun. 2018, 9, 3311; Science Adv. 2018, 4, eaat8355; J. Am. Chem. Soc. 2020, 142, 2726; Angew. Chem. Int. Ed. 2020, 59, 17938; Acc. Mater. Res. 20212, 842),并基于二維Bi2O2Se/Bi2SeO5創制了世界首例高κ栅介質集成型二維鳍式晶體管(Nature. 2023,616,66)。

 

  最近,彭海琳課題組基于高遷移率二維半導體Bi2O2Se垂直鳍片陣列的外延生長方法,進一步開發了一種台階誘導的選擇性成核垂直外延方法,通過在絕緣襯底表面(LAO(100)晶面,CaF2(110)晶面,以及MgO(110)晶面)人為地制造平行台階,誘導二維Bi2O2Se鳍片在台階處優先成核,同時控制二維鳍片的取向與成核位點,制備了單一取向二維Bi2O2Se鳍片陣列。并利用可控插層氧化技術,實現了單一取向二維Bi2O2Se鳍片陣列與高κ自氧化物Bi2SeO5的三維異質外延集成。值得注意的是,通過提高台階密度,可實現高密度二維鳍片陣列制備,鳍片最小間距可達~20nm。

 

圖1. 單一取向二維Bi2O2Se鳍片陣列的台階誘導外延。(a)在台階處成核的二維鳍片示意圖;(b)台階誘導外延生長的單一取向二維Bi2O2Se鳍片陣列的傾角掃描電鏡圖像;(c-e)不同襯底上台階誘導外延生長的高密度二維Bi2O2Se鳍片陣列的掃描電鏡圖像;(f)不同襯底上不同陣列中最小鳍片間距統計。

 

  高密度、單一取向的高κ自氧化物Bi2SeO5集成型二維鳍片陣列的外延集成,為具有高驅動能力的多通道二維鳍式晶體管的開發奠定了材料基礎。研究團隊基于外延二維Bi2O2Se/Bi2SeO5異質結陣列,研制了高性能多通道二維鳍式晶體管。晶體管具有優異的電學性能,遷移率高達267cm2V-1s-1,關态電流小于0.01nA,開關比大于106。随着器件中鳍片數量的增加,晶體管的驅動能力也逐漸提升,表現出更大的開态電流和跨導,其中基于五個鳍片的晶體管開态電流高達1mA。高開态電流決定了多通道二維鳍式晶體管具有低至30ps的延遲時間。

 

  

  圖2. 多通道二維鳍式晶體管電學性能。(a)三通道二維鳍式晶體管掃描電鏡圖像;(b)圖a中器件的輸出特性曲線;(c)圖a中器件的轉移特性曲線;(d)基于不同數量鳍片構築的二維鳍式晶體管開态電流與跨導比較;(e)多通道二維鳍式晶體管與其他晶體管的延遲時間比較。

 

  高κ自氧化物Bi2SeO5集成型多通道二維鳍式晶體管的優異電學性能證明了二維Bi2O2Se鳍片陣列可協同工作,具有通過多鳍片集成實現複雜邏輯運算的潛力。未來随着台階制造方法的進一步優化與台階間距的精确控制,規則排列的高密度二維Bi2O2Se鳍片陣列有望為二維鳍式晶體管(2D FinFET)及二維垂直圍栅器件(2D VGAA)的大面積集成提供材料基礎,在未來高算力低功耗微納電子器件的發展中具有重要意義。

 

  該研究成果以“集成型多通道二維鳍式晶體管”(Integrated 2D multi-finfield-effecttransistors)為題,近日發表于Nature Communications。beat365官方网站彭海琳教授、深圳先進技術研究院丁峰教授是該論文的共同通訊作者,beat365官方网站博士研究生于夢詩、BMSFellow博士後譚聰偉、深圳先進技術研究院博士後尹玉玲是共同第一作者。

 

  該研究成果得到國家自然科學基金委、科技部、北京分子科學國家研究中心、新基石基金會、北京分子科學國家研究中心博士後項目等機構和項目的資助,并得到了beat365官方网站的分子材料與納米加工實驗室(MMNL)儀器平台的支持。

 

  論文鍊接:https://www.nature.com/articles/s41467-024-47974-2

 

 

排版:高楊

審核:李玲,高珍

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